产品简介
在光学测量领域，精准量化光的偏振度（DOP）对于评估光源质量、保证光学
系统性能至关重要。JW8609偏振度测量仪正是为此而设计的专业仪器。它采
用独特的双波片转动扰偏技术，相较于传统的扰动光纤或挤压光纤扰偏方式，
双波片在转动时几乎不影响光的能量，因此能以极低的测量损耗（不足0.002dB）
对低偏振态光信号进行精准捕获与量化分析。凭借这一核心技术，特别适用于
低偏振光的精确测量与监测，为光纤通信、相干光传感及前沿科研中要求苛刻
的低偏振度测量场景提供了可靠的测试保障。
产品特点
•专注于0.1%的高精度低偏振光测量：
设备偏振度测量精度高达0.1%，分辨率可达0.01%，能够精准捕捉输入光束
中微弱到1‰的偏振分量变化。无论是近完全退偏光源的特性表征，还是高
消偏器件性能的精细验证，均可提供稳定、可信的量化数据支撑。
•独特的双波片扰偏技术：
采用双波片转动实现扰偏的测量方案，波片在转动时几乎不引入光强波动
（损耗不足0.002dB），而传统挤压光纤扰偏方案一般会造成约0.02dB的
光强变化。这一技术优势确保了低偏振度测量过程的极低光强影响与高测
量稳定性，能够真实反映待测光束的本征偏振特性。
•单次测量仅需0.5秒：
设备优化了光路扫描与数据处理的响应速度，单次完整测量仅需0.5秒即
可完成，有效缩短了测试周期，适用于产线批量检测及需要频繁采样的
研发测试场景。
•采样速率可达8Hz：
连续测量模式下，采样速率最高可达8Hz，可用于实时监测光源或器件偏振
度随时间的变化趋势，帮助研发人员捕捉动态偏振漂移，为工艺优化与系统
调试提供连续的偏振数据支持。
连接被测光源
应用领域
•通用光源的偏振度检测与监测：
适用于ASE宽谱光源、SLED光源、超辐射发光管及DFB激光器等常见光源的出厂偏振度标定与长期稳定性监测。
•光纤通信系统：
在相干光通信与高速光纤传输系统中，用于信噪比（OSNR）相关参数的分析与链路中偏振退化的诊断，辅助系统设计人员进行链路偏振性能优化。
•半导体与显示行业：
适用于VCSEL阵列、激光显示光源及硅光芯片的偏振度检测，助力半导体光电器件的偏振一致性控制与批次验证。
•光纤陀螺与光纤传感：
用于评估光纤陀螺系统中光源及光路的偏振退化情况，为分布式传感系统提供低偏振光源入纤前的质量把控数据。
•科研平台与教学实验室：
适用于偏振光学基础实验、偏振光源表征及光电器件偏振特性研究，操作简便、数据直观，为高校及科研院所的偏振测量教学与实践提供可靠工具。
技术指标
参数 | 技术指标 |
波长范围 | 1270-1650nm |
输入功率范围 | -30dBm~+10dBm |
DOP分辨率 | 0.01% |
DOP精确度 | 0.1% |
DOP范围 | 0-100% |
测量速度 | 0.5s |
连接头型号 | FC/APC和FC/PC通用 |
通信接口 | RS232 |
交流电源输入 | 220V，50Hz |
开机热机时间 | 15min |
工作温度 | +10～+40℃ |
存储温度 | -15～+70℃ |
重量 | 4kg |
外观尺寸 | 235*104*300 mm（带脚） |
